3D kinetische Monte Carlo-basierte Untersuchung des Einflusses von Dotierstoffen auf die Zuverlässigkeit von VCM ReRAM

Ein neuer Zeitschriftenartikel wurde soeben von N. Kopperberg, D. Genua Noguera und S. Menzel im Journal of Applied Physics 137, 175105 (2025) veröffentlicht.
(https://doi.org/10.1063/5.0262843)

„Mithilfe eines erweiterten kinetischen 3D-Monte-Carlo-Modells wird in dieser Studie gezeigt, wie Dotierstoffe die Dynamik von Sauerstoffleerstellen in ReRAMs mit Valenzwechselmechanismus (VCM) stabilisieren. Die implementierten Trapping-Effekte verringern die Variabilität erheblich, indem sie das Signal-Rausch-Verhältnis (SNR) erhöhen und die Retention durch Begrenzung des Stromabbaus verbessern. Diese Ergebnisse bieten neue Einblicke in die dotierungsbedingte Zuverlässigkeitsoptimierung für ReRAM-Anwendungen der nächsten Generation.“